Повторим, нанотехнологии — это всегда сложные структуры. Эти структуры имеют различную природу, в том числе фрактальную. И метрология в области нано сталкивается с тем, с чем мы ранее не сталкивались или почти не сталкивались[32]. Вы пытаетесь померить длину — а длины то и нет. Вместо нее какая-то странная полуплощадь. И это притом, что весь наш современный технологический мир — мир эталонов и стандартов, мир измерений на их основе, мир метрологии, той самой метрологии, которая совсем недавно казалась столь надежной и безальтернативной. Но в мире нано наши объекты измерения стали столь странными и необычными, что привычная нам метрология оказалась недостаточной. Наш технологический мир потерял устойчивые основания, а имеющиеся основания — зыбки.
Более того, следует привыкать к тому, что в области нано, когда мы говорим «измерили», мы имеем совсем не то же самое, когда измеряли штангенциркулем или микрометром металлическую деталь. Наши измерения перестали быть прямыми. Мы скорее высчитываем результат, чем его измеряем.
Например, поднесли мы иглу кантилевера сканирующего атомно-силового микроскопа к поверхности материала — «ощупываем» атомы. Мы их действительно скорее ощупываем, чем видим. Принцип работы заключается в следующем. Между иголочкой и поверхностью образуется электрическое поле. Его мы можем высчитать, смоделировать. Под действием этого поля течет ток, называемый туннельным. Чем ближе к атому наша иголочка, тем ток больше — и наоборот. Вот мы и знаем — где атом, а где пусто. Но если мы поднесем нашу иголочку к дендримеру, что мы «нащупаем»? А ничего. Ведь наше умение «щупать» существенным образом опиралось на то, что мы догадались, как выглядит электрическое поле от нашей иголочки, а догадались лишь потому, что знали заранее, как примерно расположены атомы. В случае дендримера можно теоретически предположить, что мы опять угадаем. Но если мы разглядываем плохо знакомую сложную молекулу, извитую во всех направлениях, поможет ли нам наше «ощупывание»?
Следует подчеркнуть, что данная сложность носит принципиальный и неустранимый характер. У нас нет возможности заменить грубую линейку на точный микрометр, как это было ранее. [32]
Нанотехнологии — наша попытка использовать законы квантового мира в нашем мире. А эти законы таковы: чем точнее мы пытаемся что-то померить, тем хуже (естественно начиная с квантового уровня)! Представьте, что вы пытаетесь рассмотреть лампочки на потолке. Получилось! Но что это? Она какая-то разбитая, как будто бы по ней молотком ударили. И не светит уже! Как же так — свет же был? Неужели у нас такой тяжелый взгляд, что лампочки разбиваются?
В квантовом мире любой «взгляд» — «тяжелый». В квантовом мире мы не можем разглядеть мелко и подробно без того, чтобы разглядываемое не нарушить: сдвинуть или изменить. Простейшим выражением этого факта является так называемый принцип неопределенности Гейзенберга. Из-за этого принципа тот объект, про который мы знаем точно, где он находится, вынужден это место покинуть. Вот если мы иголкой кантилевера тщательно ощупаем атом, мы его передвинем. Кстати, так и делают. А микроскоп именно поэтому называют атомно-силовым.
В нанотехнологиях мы многое не можем померить прямыми методами как по квантовым причинам, так и по причинам сложности структуры. Мы вынуждены, часто с применением суперкомпьютеров, не измерять, а моделировать в надежде, что наши модели верны. Но такое моделирование не может заменить измерение полностью! Измеряя «что-то» и получая неожиданный, расходящийся с нашими ожиданиями результат, мы понимаем, что это «что-то» не такое, как нам казалось. Но мы не только удивляемся, мы делаем вывод: осторожнее, «оно» — не такое! Модели же не всегда предоставляют нам возможность быть осторожными. И это серьезный и, по-видимому, неустранимый риск, связанный с применением нанотехнологий.
Но метрологические риски, связанные с широким применением моделей, заменой измерения моделированием, этим не исчерпываются. Проектируя наноструктуру — сложную молекулу, структуру на поверхности кристалла или их совокупности, — мы применяем
Посмотрите на операционную систему
Кроме того, в силу их высокой стоимости и сложности такие системы — источник политических рисков. Но это тема отдельной главы.
Метрологические риски нано — риск неверного измерения ввиду природы измеряемого.